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泰克数字采样示波器DSA8300

简要描述:泰克数字采样示波器DSA8300
主要性能指标
低时基抖动:
8 条同时采集的通道上典型值为 425 fs
82A04B 相位基准模块中,最多 6 条通道上 <100 fs
垂直分辨率 – 16 位模数转换器
电接口分辨率:<20 µV LSB(适用于 1 v 全量程)
光接口分辨率从 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW 到 80C10C(30 mW 全量程)的<0.6 µW

  • 产品型号:泰克DSA8300
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2021-12-10
  • 访  问  量:170

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详细介绍

品牌其他品牌价格区间0-5万
产地类别进口应用领域电子
频率70GHZ

     泰克数字采样示波器DSA8300

     主要特点

  各种光接口模块、电接口模块和附件模块可以满足您的特定测试要求。

  光接口模块

支持从 155 Mb/s 到 10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s 和 50G/100G/200G/400G PAM4 光数据速率的光模块

光基准接收机(ORR) 1 满足了标准规定的一致性测试中要求

光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围,可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

已校准消光比测量和变量校正 ER 测量可确保精度和重复能力

  电接口模块

超低噪声电采样器(20GHz 时 280 μV,60GHz 时 450 μV,典型值)

可以选择带宽2,用户可以平衡带宽和噪声,实现优的数据采集性能

远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆大限度地减少信号劣化,因为采样器可以放在被测器件附近

高性能集成 TDR(10 ps 典型步进上升时间)支持杰出的阻抗不连续性检定,对带宽高达 50GHz 的 S 参数测量提供了高动态范围分析

      泰克数字采样示波器DSA8300

对速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之间的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行数据执行抖动、噪声和 BER 分析,了解眼图闭合的确切原因

分析 PAM4 信号,全面分析每一个 PAM 眼图的抖动、噪声和 BER,并支持一套全局测量,评估 PAM4 信号整体属性

100G-SR4/发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 自动化提供对 SR4 短程以太网至关重要的 TX 光属性的全套测试和调试

80STDEC 简化了高性能发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 测量,使其非常适合生产和一致性验证应用

自动模板测试,支持 80 多种行业标准模板。新模板可以导入 DSA8300,支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板,自动进行模板测试

抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析 (SDLA) 通过 80SJNB Essentials 和 Advanced 应用软件选项提供

高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过 IConnect® 应用软件选项提供

400G-M4 光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能高测试吞吐量


每条通道高达 200 kS/s 的高采样率

高效编程接口(IEEE-488、以太网或本地处理器接入)实现高测试吞吐量


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