测量元器件和电路的频率响应特性是确保电子设备性能的关键步骤。在从低频至高频的各种频率范围内对各类元器件和电路进行测量非常必要。
在这些应用中,
是德E5063A网络分析仪在确保低频模拟电路器件(例如传感器系统和电源部件)实现稳定可靠工作方面具有重要作用。为此,您需要在了解射频网络分析(S参数测量)的同时,也需要很好地对低频网络分析(增益相位测量)的应用有所了解。
首先,针对使用低频网络分析仪测量2端口器件的传输特性的配置,我们简要介绍一下典型的被测器件的连接方法。是测量50Ω的器件的传输响应特性,例如:滤波器和电缆。
使用是德E5063A网络分析仪的增益相位测试端口进行此类测试的配置情况。R通道接收机(VR)用于测量在50Ω系统阻抗的激励源的输出电压(50Ω传输线输入信号的电压),T通道接收机(VT)用于测量经过被测器件传输之后输出信号的电压,然后仪表计算测量到的电压比(VT/VR),即可得到传输系数S21。
在S参数测试端口的后边有多个内置的定向桥,因此无需使用从外部接入测量配置中的功率分离器。大部分情况下,S参数测试端口用于测量50Ω的器件的传输响应特性。
对于大部分50Ω器件的传输响应特性的测试情况,使用是德E5063A网络分析仪的S参数测试端口就可以了。
但是,对于大衰减器件的测量,例如:测量DC-DC转换器和大电容旁路电容器的只有毫欧量级的阻抗时,通常需要采用分流直通的测量方法,这种传输响应特性的测量就要使用仪表的增益相位测试端口而不是S参数测试端口进行测量。
在这种情况下,增益相位测试端口接收机的半浮地结构可以避免低频范围的测量误差,该误差是由激励号源与接收机之间测试电缆的接地环路引起的(稍后会有详细介绍)。